無損(sun)檢(jian)測(ce)技術(shu)，又(you)稱非破壞檢(jian)查(cha)技術(shu)，是第(di)二次世(shi)界大戰后迅速發(fa)(fa)展起來的一門(men)新興(xing)的工程科(ke)學。它(ta)是利(li)用(yong)(yong)物(wu)質(zhi)中因有(you)缺陷或(huo)組織結構(gou)上的差異存在而會使其某些(xie)物(wu)理(li)性質(zhi)的物(wu)理(li)量發(fa)(fa)生(sheng)變化的現象(xiang)，以不使被檢(jian)查(cha)物(wu)使用(yong)(yong)性能(neng)及形態受到(dao)損(sun)傷為前提，通過一定的檢(jian)測(ce)手段來檢(jian)測(ce)或(huo)測(ce)量、顯示(shi)和評(ping)估(gu)這些(xie)變化，從(cong)而了解和評(ping)價材料、產品、設備構(gou)件(jian)直至生(sheng)物(wu)等的性質(zhi)、狀態或(huo)內(nei)部結構(gou)等等。它(ta)最(zui)突(tu)出的特(te)點(dian)是“無損傷”，因此在工(gong)業生產、物(wu)理(li)研究、生物(wu)工(gong)程(cheng)以及(ji)醫(yi)療診斷(duan)等廣大(da)領域(yu)獲得(de)極大(da)的重視和迅速(su)發展(zhan)。在工(gong)業領域(yu)，目(mu)前最常用的有超聲波(bo)檢測(ce)(ce)、磁粉檢測(ce)(ce)、滲透檢測(ce)(ce)、射線檢測(ce)(ce)。

1.   超(chao)聲波檢測技術

通(tong)過(guo)超聲(sheng)波與試件相互作(zuo)用，就反射、透射和(he)散射的波進(jin)行研究(jiu)，對試件進(jin)行宏觀缺陷監測、幾何特性(xing)(xing)測量、組織結構和(he)力學(xue)性(xing)(xing)能變(bian)化的檢測和(he)表征，并(bing)進(jin)而對其特定應用性(xing)(xing)進(jin)行評價的技(ji)(ji)術成(cheng)為(wei)超聲(sheng)波檢測技(ji)(ji)術，其(qi)原理為聲源產生超(chao)聲波(bo)(bo)，采用一(yi)定的(de)方(fang)式使超(chao)聲波(bo)(bo)進(jin)入試(shi)件(jian)，超(chao)聲波(bo)(bo)在試(shi)件(jian)中傳播(bo)并(bing)與試(shi)件(jian)材料以及(ji)其(qi)中的(de)缺(que)(que)(que)陷相互作用，使其(qi)傳播(bo)方(fang)向(xiang)或(huo)特征被(bei)改(gai)變，改(gai)變后的(de)超(chao)聲波(bo)(bo)通過檢(jian)測(ce)設備被(bei)接收，并(bing)可(ke)對其(qi)進(jin)行處理和分析，根據接收的(de)超(chao)聲波(bo)(bo)的(de)特征，評(ping)估(gu)試(shi)件(jian)本身及(ji)其(qi)內部(bu)是(shi)否存在缺(que)(que)(que)陷及(ji)缺(que)(que)(que)陷的(de)特性(xing)。

2.   磁粉檢測技術

鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)性(xing)材(cai)料(liao)(liao)(liao)(liao)在(zai)(zai)磁(ci)(ci)(ci)(ci)場(chang)中被磁(ci)(ci)(ci)(ci)化時(shi)(shi)，材(cai)料(liao)(liao)(liao)(liao)表面(mian)或近表面(mian)存在(zai)(zai)的(de)(de)(de)缺(que)(que)(que)陷或組織狀態變化會(hui)使導磁(ci)(ci)(ci)(ci)率發生(sheng)變化，即磁(ci)(ci)(ci)(ci)阻增大，使得磁(ci)(ci)(ci)(ci)路中的(de)(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)(ci)通相應(ying)發生(sheng)畸變，除了一(yi)(yi)部(bu)(bu)分磁(ci)(ci)(ci)(ci)通直接穿越缺(que)(que)(que)陷或在(zai)(zai)材(cai)料(liao)(liao)(liao)(liao)內部(bu)(bu)繞過缺(que)(que)(que)陷外，還有(you)一(yi)(yi)部(bu)(bu)分磁(ci)(ci)(ci)(ci)通會(hui)離開(kai)材(cai)料(liao)(liao)(liao)(liao)表面(mian)，通過空氣繞過缺(que)(que)(que)陷再重新進入材(cai)料(liao)(liao)(liao)(liao)，從而(er)在(zai)(zai)材(cai)料(liao)(liao)(liao)(liao)表面(mian)的(de)(de)(de)缺(que)(que)(que)陷處形成漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)場(chang)。當采用微細的(de)(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)(ci)性(xing)介質（磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉）鋪撒(sa)在(zai)(zai)材(cai)料(liao)(liao)(liao)(liao)表面(mian)時(shi)(shi)，這(zhe)些磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉會(hui)被漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)場(chang)吸附聚集從而(er)顯示(shi)出(chu)缺(que)(que)(que)陷所在(zai)(zai)，這(zhe)種方法就是(shi)“磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉探傷(shang)”技(ji)術(shu)。如果不是(shi)使用磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉，而(er)是(shi)直接使用特殊的(de)(de)(de)測磁(ci)(ci)(ci)(ci)裝置（例(li)如磁(ci)(ci)(ci)(ci)帶、檢(jian)(jian)測線圈、磁(ci)(ci)(ci)(ci)敏元(yuan)件等(deng)）探查并記錄漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)通的(de)(de)(de)存在(zai)(zai)來達到檢(jian)(jian)測目(mu)的(de)(de)(de)，則(ze)稱(cheng)為“漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)檢(jian)(jian)測”技(ji)術(shu)。目(mu)前主要應(ying)用于(yu)工業上檢(jian)(jian)查鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)性(xing)材(cai)料(liao)(liao)(liao)(liao)及零部(bu)(bu)件上的(de)(de)(de)表面(mian)和近表面(mian)缺(que)(que)(que)陷。

3.   滲透檢測技術(shu)

通(tong)過噴灑、刷涂(tu)或浸漬等方法，把滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)能力很強(qiang)的(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)液(ye)(ye)施加到(dao)(dao)被檢查的(de)(de)(de)(de)(de)物(wu)體(ti)上(shang)，當物(wu)體(ti)表面(mian)存在開口性(xing)缺陷時，滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)液(ye)(ye)因(yin)毛細管作用原理而(er)深入到(dao)(dao)缺陷中去(qu)，將物(wu)體(ti)表面(mian)多(duo)余(yu)的(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)液(ye)(ye)擦拭或沖洗干凈(jing)后，再在物(wu)體(ti)表面(mian)均(jun)勻施加顯(xian)(xian)像(xiang)(xiang)(xiang)劑，顯(xian)(xian)像(xiang)(xiang)(xiang)劑能將已滲(shen)(shen)入缺陷內(nei)的(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)液(ye)(ye)引導到(dao)(dao)物(wu)體(ti)表面(mian)上(shang)來，由于顯(xian)(xian)像(xiang)(xiang)(xiang)劑本身提供了(le)與滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)液(ye)(ye)形成強(qiang)烈對(dui)比的(de)(de)(de)(de)(de)背景襯托，因(yin)此反(fan)滲(shen)(shen)出(chu)的(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)液(ye)(ye)將顯(xian)(xian)示(shi)出(chu)缺陷的(de)(de)(de)(de)(de)狀(zhuang)況(kuang)圖像(xiang)(xiang)(xiang)，它(ta)可以是以顏(yan)色對(dui)比而(er)在白光下用肉眼觀察（稱作“著(zhu)色滲透(tou)探傷”），也(ye)可以是因具有熒光作用而(er)在(zai)紫外光下觀(guan)察（稱作“熒光滲透探傷”）。主要(yao)應用于檢查材料及工件表面開口性缺(que)(que)陷，其(qi)靈敏度已經達(da)到可以檢查出(chu)開口寬度僅有微(wei)米級的缺(que)(que)陷。

4.   射(she)線檢測技術

利用X射線(xian)、γ射線、β射線(xian)以及如中子射線(xian)、GAO能射線(xian)等放(fang)射線(xian)穿(chuan)透(tou)物(wu)(wu)質時，由于存(cun)在吸收與散射、電(dian)子偶生成等特性與物(wu)(wu)質的(de)(de)密度結構(gou)相(xiang)關，或(huo)者(zhe)產(chan)生電(dian)離等現(xian)象，從而能夠顯(xian)示(shi)物(wu)(wu)質內(nei)部的(de)(de)缺陷或(huo)組織(zhi)結構(gou)。常見的(de)(de)有采用照(zhao)相(xiang)或(huo)屏幕顯(xian)示(shi)、電(dian)視(shi)顯(xian)示(shi)等方法將(jiang)物(wu)(wu)質內(nei)部情況顯(xian)示(shi)為可(ke)見圖像以進行分析判斷(duan)。例如(ru)工業上用于檢查鑄件、焊縫等的(de)(de)“射線(xian)照相檢測”或(huo)“工業X光電(dian)視(shi)”、醫學(xue)界用于檢(jian)查人體(ti)的“X光透視或照相”及“CT”等。